新闻动态
首页 > 宏测动态 > 2014年3月MTS发布MS7000TWIN双并发工位集成电路测试系统

2014年3月MTS发布MS7000TWIN双并发工位集成电路测试系统

发布日期:2015-05-07

MS7000TWIN双并发工位集成电路测试系统是MTS研发的具有完全自主知识产权的新一代集成电路测试系统,在通用测试总线架构上,一台测试设备有两个Station,可以同时并发测试两个不用的IC产品,每个Station可以进行1~16 Site并测。MS7000TWIN有集成高速数字、模拟、高压源(可达1000V)、大电流(可达100A)、混合信号(测试高速A/D,D/A)和RF射频等测试选件;该测试系统以LED驱动芯片、xPAD PMUIC、数模混合和RF、SOC芯片为测试目标市场,其可测试覆盖的产品有音视频芯片、电源管理芯片、LED驱动芯片、射频芯片、MOSFET和触控IC等主流集成电路和上规模应用的特殊产品。